成果名称 ---【 VLSI设计中逻辑验证方法的研究 】

基本信息
所属机构
中国科学院计算技术研究所
主题词
逻辑验证;逻辑模拟;形式验证
研究起止时间
1998.01 至2000.12
成果公报内容
1. 课题来源与背景 "VLSI设计中逻辑验证方法的研究"是国家自然科学基金资助项目(批准号69773006)。本项目研究VLSI设计中的新的、高效率的逻辑验证方法。为了设计和建立高可靠的VLSI系统,设计验证是其中亟待解决的核心问题之一。 2. 研究目的与意义 设计验证是采用逻辑模拟及形式验证等方法来验证设计的正确性。目前国际上对设计验证的研究主要集中在欧洲。国内对设计验证的研究比较薄弱、从事的研究人员较少。但从国家集成电路发展的整体情况来看,VLSI的设计和研制已越来越多,迫切需要进行有效的设计验证。从事VLSI设计验证的基础研究具有广泛的应用前景。 3. 主要论点与论据 本项目的研究成果包括:(1)利用逻辑模拟方法、结合门级单固定型故障的测试产生来进行设计验证。采用功能级模拟、门级模拟和混合模拟。主要解决由于输入的数据量巨大而造成的模拟时间长、效率低等问题。(2)基于二元判决树(BDD)的逻辑验证。由于BDD所要求的存储量随函数的大小成指数增长,解决BDD的存储量问题成为使BDD能够广泛应用的关键。(3)时态逻辑验证。主要解决对大数据量的处理。(4)层次验证和并行验证。主要解决BDD 的并行构造和验证任务的分配问题,以及时间模型和时序行为问题。 4. 创见与创新 (1)在研究VLSI设计的逻辑验证方法时,充分借助了我们在VLSI测试方法研究中已取得的许多成果和积累的丰富经验,将两种方法的研究紧密结合起来。由于先进的测试产生方法能够产生故障覆盖率很高的测试码,因此为逻辑验证提供更加充分的测试,增加了逻辑验证的可信度。(2)我们在故障模拟方面已经提出的许多有效的加速技术,都已用于逻辑模拟中。(3)对逻辑验证自身特点的认识和有效利用也简化了逻辑验证问题。


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