专利名称 ---【 一种测试外壳电路及其设计方法 】

基本信息
申请号
CN200610090243.4
申请日
2006.07.07
公开(公告)号
CN101102232
公开(公告)日
2008.01.09
申请(专利权)人
中国科学院计算技术研究所
申请人地址
100080北京市海淀区中关村科学院南路6号
发明人
李佳;胡瑜;李晓维; 专利类型 发明专利
摘要
本发明公开了一种测试外壳电路,包括至少一条用于测试待测芯核测 试数据的测试外壳寄存器链,连接所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间 的互连电路,和连接所述测试外壳寄存器链与外部数据通路之间的互连电 路。本发明同时公开了一种测试外壳电路的设计方法。利用本发明,实现 了对测试外壳电路的设计,不仅提供了传统测试外壳的测试访问功能,而 且根据片上网络测试数据传输的特点进行了优化设计,充分利用了网络通 道的带宽,提高了测试的并行性,缩短了测试时间,减少了测试所需的引 脚数以及测试面积的开销,降低了测试成本。
主权项
1、一种测试外壳电路,其特征在于,该电路包括: 至少一条用于测试待测芯核测试数据的测试外壳寄存器链,连接所述 测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路,和连接所述测试外壳寄存 器链与外部数据通路之间的互连电路。

 

IPC信息
IPC主分类号
H04L12/26(2006.01)I
IPC分类号
H04L12/26(2006.01)I;H04B17/00(2006.01)I;H04M3/24(2006.01)I

 

法律状态信息
法律状态公告日
2009.06.03
法律状态
授权 法律状态信息
授权
法律状态公告日
2008.02.27
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
实质审查的生效
法律状态公告日
2008.01.09
法律状态
公开 法律状态信息
公开

 

代理信息
代理机构名称
中科专利商标代理有限责任公司
代理人姓名
周国城
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