专利名称 ---【 一种测试外壳电路及其设计方法 】

基本信息
申请号
CN200610090243.4
申请日
2006.07.07
公开(公告)号
CN101102232
公开(公告)日
2008.01.09
申请(专利权)人
中国科学院计算技术研究所
申请人地址
100080北京市海淀区中关村科学院南路6号
发明人
李佳;胡瑜;李晓维; 专利类型 发明专利
摘要
本发明公开了一种测试外壳电路,包括至少一条用于测试待测芯核测 试数据的测试外壳寄存器链,连接所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间 的互连电路,和连接所述测试外壳寄存器链与外部数据通路之间的互连电 路。本发明同时公开了一种测试外壳电路的设计方法。利用本发明,实现 了对测试外壳电路的设计,不仅提供了传统测试外壳的测试访问功能,而 且根据片上网络测试数据传输的特点进行了优化设计,充分利用了网络通 道的带宽,提高了测试的并行性,缩短了测试时间,减少了测试所需的引 脚数以及测试面积的开销,降低了测试成本。
主权项
1、一种测试外壳电路,其特征在于,该电路包括: 至少一条用于测试待测芯核测试数据的测试外壳寄存器链,连接所述 测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路,和连接所述测试外壳寄存 器链与外部数据通路之间的互连电路。

 

IPC信息
IPC主分类号
H04L12/26(2006.01)I
IPC分类号
H04L12/26(2006.01)I;H04B17/00(2006.01)I;H04M3/24(2006.01)I

 

法律状态信息
法律状态公告日
2009.06.03
法律状态
授权 法律状态信息
授权
法律状态公告日
2008.02.27
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
实质审查的生效
法律状态公告日
2008.01.09
法律状态
公开 法律状态信息
公开

 

代理信息
代理机构名称
中科专利商标代理有限责任公司
代理人姓名
周国城

 

被引专利信息
引用阶段 被引时间 专利号 申请人 公开时间

 

被引非专利信息
引用阶段 被引时间 被引文档类型 被引文档信息
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