专利名称 ---【 增加焦深范围的光学相干层析成像系统 】

基本信息
申请号
CN201710562810.X
申请日
2017.07.11
公开(公告)号
CN107233069A
公开(公告)日
2017.10.10
申请(专利权)人
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址
201800 上海市嘉定区清河路390号
发明人
王瑄;李中梁;王向朝;南楠;曾爱军;陈艳;潘柳华;卢宇;宋思雨 专利类型 发明专利
摘要
一种增加焦深范围的光学相干层析成像系统,包括扫频光源、干涉仪、平衡探测器、数据采集卡和计算机,本发明利用圆环达曼光栅产生的贝塞尔光束照明样品替代传统高斯光束照明的方式增加了系统的焦深,所述的空间滤波器放置在第一聚焦透镜和第二聚焦透镜之间,用于优化获得的贝塞尔光束的质量,图像质量更好。所述的反射镜除了具有反射待测样品散射光的作用,还具有滤除空间滤波器后出射的杂散光的作用。
主权项
一种增加焦深范围的光学相干层析成像系统,包括扫频光源(1)、干涉仪(2)、平衡探测器(3)、数据采集卡(4)和计算机(5),所述的扫频光源(1)的输出端与所述的干涉仪(2)的第一耦合器(21)的第一端口(211)相连,第一耦合器(21)将输入光分为样品光路(22)和参考光路(23),其特征在于所述的样品光路(22)依次是第一光束准直器(221)、圆环达曼光栅(222)、第一聚焦透镜(223)、空间滤波器(224)、反射镜(225)、第二聚焦透镜(226)和待测样品(227),经待测样品(227)的部分散射光经第二聚焦透镜(226)变成平行光,再经反射镜(225)反射后由平行光收集器件(228)耦合进第一光纤(229),再输入第二耦合器(24)的第一端口(241);参考光路(23)依次包括第二光束准直器(231)、色散补偿快(232)和第三光束准直器(233)、第二光纤(234)、第二耦合器(24)的第二端口(242);第二耦合器(24)的输出端口(243和244)连接至所述的平衡探测器(3),再通过数据采集卡(4)与计算机(5)相连。所述的光学相干层析成像系统干涉仪的样品臂包括第一光束准直器、圆环达曼光栅、第一聚焦透镜、空间滤波器、反射镜、第二聚焦透镜和平行光收集器件。所述的反射镜除了具有反射待测样品散射光的作用,还具有滤除空间滤波器后出射的杂散光的作用。

 

IPC信息
IPC主分类号
A61B3/10(2006.01)I
IPC分类号
A61B3/10(2006.01)I;A61B5/00(2006.01)I

 

法律状态信息
法律状态公告日
2017.10.10
法律状态
公开 法律状态信息
公开

 

代理信息
代理机构名称
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317
代理人姓名
张宁展
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