专利名称 ---【 阵列样品激光加热系统 】

基本信息
申请号
CN201811348693.8
申请日
20181113
公开(公告)号
CN109352182B
公开(公告)日
20190219
申请(专利权)人
中国科学院上海硅酸盐研究所
申请人地址
200050 上海市长宁区定西路1295号
发明人
刘茜;余野建定;汪超越;李勤;徐小科;周真真; 专利类型 发明专利
摘要
本发明所提供的阵列样品激光加热系统包括:输出激光以提供加热能量的激光光源单元,其具备并列或阵列排布的多个激光器;设于所述激光光源单元下游以改变激光光斑尺寸的激光束斑调节单元;用于放置阵列样品的样品台;用于对待加热阵列样品的激光加热温度测温并反馈加热效果的温度测量单元;用于记录实验结果的图像记录单元;与所述激光光源单元、温度测量单元、和图像记录单元等相连接的总控单元。本发明能够实现多光束并行、束斑可调的激光加热,用于对材料基因工程所需的材料阵列样品的快速定向加热。
主权项
1.一种阵列样品激光加热系统,其特征在于,包括:输出激光以提供加热能量的激光光源单元,其具备并列或阵列排布的多个激光器,所述激光器为连续激光器,其能量调节范围为0.1W 150W;~设于所述激光光源单元下游以改变激光光斑尺寸的激光束斑调节单元,所述激光束斑调节单元包括前后两个曲面透镜,准平行的激光通过前一个曲面透镜变得聚焦或者发散,再通过后一个曲面透镜重新成为准平行的激光;用于放置阵列样品的样品台,阵列样品中每个样品的间隔距离与多个激光光束的间距相匹配,所述样品为金属或无机非金属的粉体、膜材和块体样品;用于对待加热阵列样品的激光加热温度测温并反馈加热效果的温度测量单元,所述温度测量单元对每束激光设有独立的探测器;用于记录实验结果的图像记录单元;与所述激光光源单元、温度测量单元和图像记录单元相连接的总控单元;与所述激光光源单元、温度测量单元和总控单元相连接的数据采集和控制器,所述数据采集和控制器根据每个样品的加热参数调整对应的所述激光器的输出功率百分比,且所述数据采集和控制器根据所述温度测量单元采集到的样品温度实时调整所述激光器的输出功率百分比;载置所述样品台并使阵列样品与激光束定向加热位点位置匹配运动的样品台移动单元,所述样品台移动单元为X-Y二维移动单元且其移动由移动台控制器控制,并与所述总控单元相连。

 

IPC信息
IPC主分类号
G01N1/44

 

法律状态信息
法律状态公告日
20190219
法律状态
公开 法律状态信息
CN201811348693 20190219 公开 公开
法律状态公告日
20190315
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
CN201811348693 20190315 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):B23K 26/362
法律状态公告日
20210212
法律状态
授权 法律状态信息
CN201811348693 20210212 授权 授权

 

代理信息
代理机构名称
上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261
代理人姓名
曹芳玲;姚佳雯


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