专利名称 ---【 一种测试图像传感器像元内响应非均匀性的系统 】

基本信息
申请号
CN201811407348.7
申请日
2018.11.23
公开(公告)号
CN109257595A
公开(公告)日
2019.01.22
申请(专利权)人
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址
130033 吉林省长春市长春经济技术开发区东南湖大路3888号
发明人
兰太吉;李俊霖;杨永强; 专利类型 发明专利
摘要
本发明公开了一种测试图像传感器像元内响应非均匀性的系统,包括:星点投影装置,图像传感器,微位移台,图像采集装置,处理器;利用所述星点投影装置将星点投影至所述图像传感器表面预设区域;利用所述微位移台调节所述星点在所述图像传感器表面上的相对位移;所述图像采集装置用于当所述星点在所述图像传感器表面上的相对位移每增加预设步长,采集并存储一幅星点图像;所述处理器用于对采集到的多幅星点图像进行处理,根据计算得到的所述每幅星点图像的像斑椭率对所述图像传感器的像元内响应非均匀性进行测评。本发明所提供的系统利用星点投射到图像传感器表面并控制其移动,测量图像传感器对星点所成像斑的椭率从而评估其像元内响应非均匀性。
主权项
1.一种测试图像传感器像元内响应非均匀性的系统,其特征在于,包括:星点投影装置,待检测的图像传感器,微位移台,图像采集装置,处理器;其中,所述星点投影装置用于将星点投影至所述图像传感器表面的预设区域;所述微位移台用于调节所述星点投影装置和所述图像传感器之间的位置,从而调节所述星点在所述图像传感器表面上的相对位移;所述图像采集装置用于当所述星点在所述图像传感器表面上的相对位移每增加预设步长,采集并存储一幅星点图像;所述处理器用于对采集到的多幅星点图像进行处理,根据计算得到的所述每幅星点图像的像斑椭率对所述图像传感器的像元内响应非均匀性进行测评。

 

IPC信息
IPC主分类号
H04N17/00(2006.01)I
IPC分类号
H04N17/00(2006.01)I;H04N5/225(2006.01)I

 

法律状态信息
法律状态公告日
2019.01.22
法律状态
公开 法律状态信息
公开

 

代理信息
代理机构名称
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人姓名
罗满

 

被引专利信息
引用阶段 被引时间 专利号 申请人 公开时间

 

被引非专利信息
引用阶段 被引时间 被引文档类型 被引文档信息
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