专利名称 ---【 一种基于光学微腔的低维材料折射率测定样品及测定方法 】

基本信息
申请号
CN201910246106.2
申请日
20190329
公开(公告)号
CN110044846A
公开(公告)日
20190723
申请(专利权)人
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址
200083 上海市虹口区玉田路500号
发明人
王少伟;颜炎洪;崔壮壮;陈旭;吴智勇;陆卫; 专利类型 发明专利
摘要
本发明公开了一种基于光学微腔的低维材料折射率测定样品及测定方法,通过镀膜方法来制备获得法布里‑珀罗腔(F‑P)的光学微腔结构,只需将二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料嵌埋到光学微腔中,应用显微光谱仪对比测量有、无低维材料区域的透射谱或反射谱,通过腔模峰位的移动获得低维材料对光程差的改变信息,就可以精确计算出低维材料的折射率。本发明解决了微米尺度低维材料折射率的测量难题并实现精确测量,具有很好的普适性,能够应用于各种二维材料、纳米片、纳米带、薄膜等低维材料折射率的精确测定。
主权项
1.一种基于光学微腔的低维材料折射率测定样品,包括:衬底(1)、下层DBR(5)、待测低维材料(4)、部分光学微腔和上层DBR(6),其特征在于:所述的测定样品结构为:在衬底(1)上依次有下层DBR(5)、待测低维材料(4)、部分光学微腔与上层DBR(6),其中待测低维材料(4)位于下层DBR(5)上,上层DBR与部分光学微腔(6)覆盖在下层DBR(5)和待测低维材料(4)上;显微光谱仪分别测试样品中有、无低维材料区域的透射或反射光谱,利用其峰位移动获得低维材料对光程差的改变信息,从而准确计算出低维材料的折射率。

 

IPC信息
IPC主分类号
G01N21/41

 

法律状态信息
法律状态公告日
20190816
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
CN201910246106 20190816 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/41
法律状态公告日
20190723
法律状态
公开 法律状态信息
CN201910246106 20190723 公开 公开

 

代理信息
代理机构名称
上海沪慧律师事务所 31311
代理人姓名
郭英

 

被引专利信息
引用阶段 被引时间 专利号 申请人 公开时间

 

被引非专利信息
引用阶段 被引时间 被引文档类型 被引文档信息


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