专利名称 ---【 一种确定系统误差对SAR成像影响的方法 】

基本信息
申请号
CN202010976344.1
申请日
20200916
公开(公告)号
CN112098963A
公开(公告)日
20201218
申请(专利权)人
中国科学院空天信息创新研究院;北京市遥感信息研究所
申请人地址
100190 北京市海淀区北四环西路19号
发明人
黄丽佳;吕守业;辛煜;张彪;胡玉新;韩冰;仇晓兰;仲利华; 专利类型 发明专利
摘要
一种确定系统误差对SAR成像影响的方法。方法包括:不添加系统误差的情况下,计算卫星和第一地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数;在添加系统误差的情况下,计算卫星和第一地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数;根据添加系统误差后得到的卫星和第一地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数,计算第一地面目标点在地平面内的距离梯度和多普勒梯度;根据距离梯度和多普勒梯度,确定第二地面目标点;在添加系统误差的情况下,计算卫星和第二地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数;计算方位二次相位误差、方位三次相位误差以及位置误差。本发明提供的方法可以降低系统误差分析的复杂度,并提高系统误差分析的准确度。
主权项
1.一种确定系统误差对SAR成像影响的方法,其特征在于,包括:不添加系统误差的情况下,计算卫星和第一地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数;在添加所述系统误差的情况下,计算所述卫星和第一地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数;根据添加所述系统误差后得到的所述卫星和第一地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数,计算所述第一地面目标点在地平面内的距离梯度和多普勒梯度;根据所述距离梯度和多普勒梯度,确定第二地面目标点;在添加所述系统误差的情况下,计算所述卫星和所述第二地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数;根据所述卫星和第二地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数,以及不添加系统误差的情况下得到的所述卫星和第一地面目标点的瞬时斜距和多普勒参数,计算方位二次相位误差、方位三次相位误差以及位置误差。

 

IPC信息
IPC主分类号
G01S7/40

 

法律状态信息
法律状态公告日
20201218
法律状态
公开 法律状态信息
CN202010976344 20201218 公开 公开
法律状态公告日
20210105
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
CN202010976344 20210105 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01S7/40

 

代理信息
代理机构名称
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人姓名
刘歌


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