专利名称 ---【 一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法 】

基本信息
申请号
CN202011109442.1
申请日
20201016
公开(公告)号
CN112484855A
公开(公告)日
20210312
申请(专利权)人
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
发明人
陈铁桥;李思远;李海巍;王爽;刘学斌;张耿;冯向朋;陈小来;刘强;刘佳;刘杰;王一豪; 专利类型 发明专利
摘要
本发明涉及一种块效应校正方法,为解决现有探测器响应不一致的矫正方法,由于忽略了探测器块效应的动态变化,无法适用于大视场高分辨率干涉成像光谱仪图像非均一性校正的技术问题,提供一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,包括通过干涉成像光谱仪分别在积分球不同亮度等级下连续采集光源数据,按照时间顺序按预设时间间隔对采集数据进行分割后求取平均值图像,按照干涉维取平均得到空间维块效应曲线,再进行多项式拟合得到消除块效应光滑曲线,通过比值法求取块效应校正系数,干涉成像光谱仪采集的数据与相应时间的块效应校正系数相除得到消除块效应干涉图。
主权项
1.一种干涉成像光谱仪探测器块效应校正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,通过干涉成像光谱仪分别在积分球不同亮度等级下连续采集光源数据;S2,按照时间顺序,对经步骤S1采集的光源数据按预设时间间隔进行分割,得到多段光源数据,在每段光源数据中选取连续的50‑100%帧图像,分别对每段光源数据中选取的连续50‑100%帧图像求取平均值图像,并分别对各平均值图像进行相对定标;S3,对经步骤S2相对定标的各平均值图像按照干涉维取平均,得到多个空间维块效应曲线;S4,对每个所述空间维块效应曲线进行多项式拟合,得到多个消除块效应光滑曲线;S5,根据每个空间维块效应曲线对应的DN值和相应的每个消除块效应光滑曲线对应的DN值,通过比值法得到与预设时间间隔相应的各对应时间下的块效应校正系数;S6,应用干涉成像光谱仪采集数据,对干涉成像光谱仪各对应时间下获取的数据进行相对定标,再通过步骤S5所得相应的块效应校正系数,得到对应时间下的消除块效应干涉图。

 

IPC信息
IPC主分类号
G01J3/28

 

法律状态信息
法律状态公告日
20210312
法律状态
公开 法律状态信息
CN202011109442 20210312 公开 公开

 

代理信息
代理机构名称
西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人姓名
赵逸宸


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