高鸿奕

高鸿奕    

中国科学院上海光学精密机械研究所

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[发明专利] 记录离轴X射线全息图的装置 - CN1317802

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2001.06.01 主分类号:G21G1/12

一种记录离轴X射线全息图的装置,包括置于外 壳内的真空腔里有X射线源,X射线源发射的X射线通过双 波带片分成参考束和物束两束X射线,待测样品放置在物束 的焦点前或焦点后,参考束与物束相交

[发明专利] 原子束干涉仪 - CN1317689

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2001.06.01 主分类号:G01N23/00

一种原子束干涉仪,包括在外壳内的真空腔里, 置有原子束源,有接收面对着原子束前进方向的接收器。在原 子束源与接收器之间置有波带片,在波带片一级衍射的焦点处 有针孔光阑,在焦点垂直于X射线

[发明专利] 有预放大的X射线全息显微镜 - CN1323041

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2001.06.01 主分类号:G21K7/00

一种有预放大的X射线全息显微镜,包括置于真 空外壳内,有从X射线源发射的X射线经过会聚波带片、针孔 光阑和置于会聚波带片焦点处的待测样品。经过待测样品的X 射线为物光与未经过待测样品的参

[发明专利] 原子束像面全息记录装置 - CN1381772

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2002.05.17 主分类号:G03H5/00

一种原子束像面全息记录装置,适用于测量重 力场、电磁场等能够引起原子束位相变化的物理量。包括在 真空外壳内,从原子束源发射的原子束经过垂直于原子束流 前进方向上并列置放的第一微波带片和第

[发明专利] X射线光电子全息图的记录装置 - CN1381718

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2002.05.17 主分类号:G01N23/20

一种X射线光电子全息图的记录装置,包括在 真空腔内,X射线源发射的X射线经波带片衍射聚焦,针孔光 阑滤波,穿过待测样品的准单色X射线被待测样品中不透明 和半透明部分散射的为物束与穿过待测

[发明专利] 中子显微镜 - CN1385693

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2002.05.17 主分类号:G01N23/05

一种中子显微镜,包括由中子源发射的中子束经 过长筒状的准直器准直、再经过单色器变成单色中子束后,通过 狭缝由波带片将其中子束聚焦在置放在样品台上的待测样品 上,待测样品产生的信号经正比计

[发明专利] 极弱微磁场的测量方法 - CN1395113

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2002.05.17 主分类号:G01R33/02

一种极弱微磁场的测量方法,特别适用于磁通量小于10-15韦伯的弱磁场的测量。待测样品是由磁性材料构成,厚度小于或等于500纳米。首先将待测样品置于电子显微镜中拍摄待测样品

[发明专利] X射线荧光全息层析成像装置 - CN1421691

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2002.12.20 主分类号:G01N23/223

一种X射线荧光全息层析成像装置,包括X射 线源、相互垂直放置的两块弯曲单晶构成的单色器、沿单色器 的光束出射方向依次置有光阑和毛细管;其后是置放样品的样 品旋转台,它由计算机控制的步进电

[发明专利] 中子衍射层析成像装置 - CN1421690

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2002.12.23 主分类号:G01N23/20

一种中子衍射层析成像装置,包括转动平台、闪 烁体、铝镜、CCD相机、计算机和暗箱,所说的闪烁体、铝镜 和CCD相机放在暗箱中,中子束入射到放置在转动平台上的 样品上,中子被样品产生的衍射

[发明专利] 极弱微电场及其荷电量的测试方法 - CN1428610

申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2002.12.20 主分类号:G01R29/12

一种极弱微电场及其荷电量的测量方法,特别适用于荷电量小于10-16库仑的弱电场的测量,待测样品厚度小于或等于500nm。首先将待测样品置于电子显微镜中,拍摄待测样品的电子
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