李坤

李坤    

中国科学院西安光学精密机械研究所

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[发明专利] 大口径取样光栅取样率的测试装置及测试方法 - CN103033340A

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20110928 主分类号:G01M11/02

本发明涉及一种大口径取样光栅取样率的测试装置及测试方法,该大口径取样光栅取样率的测试装置包括激光器、分束镜、第一积分球功率计、第二积分球功率计、用于对大口径取样光栅进行扫描的二维扫描镜组以及控

[实用新型] 一种色温可调黑体光源 - CN204206520U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20141114 主分类号:H05B35/00

本实用新型提供了一种色温可调黑体光源,包括大积分球、小积分球、氙灯光源、光纤分束器、卤钨灯光源、选光组件、可变光阑、光谱采集系统以及主控系统;大积分球与小积分球通过可变光阑相连;氙灯光源通过光

[实用新型] 广角镜头畸变测试装置 - CN204314054U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20141209 主分类号:G01M11/02

一种广角镜头畸变测试装置,包括目标靶板,该目标靶板是环形靶;环形靶包括内圆以及与内圆同心的外圆;内圆与外圆的半径差由广角镜头的焦距、平行光管的焦距、CCD显微测量系统的物镜放大倍率以及CCD显

[发明专利] 望远系统视放大率测量装置及测量方法 - CN105444998B

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20151215 主分类号:G01M11/02

本发明属于光学检测领域,具体涉及一种望远系统视放大率测量装置及测量方法,该测量装置包括激光平面干涉仪、一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和二号双坐标自准直仪;激光平面干涉仪位于

[实用新型] 大口径单轴晶体光吸收系数测量装置 - CN204832011U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20150710 主分类号:G01N21/17

一种大口径单轴晶体吸收系数测量装置,准直镜、起偏器和半透半反镜A依次设置在激光器的出射光路上;半透半反镜A将入射光形成反射光A和透射光A;会聚镜A设置在反射光A的光路上并将其会聚至监视积分球功

[发明专利] 基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法 - CN106248351B

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20160824 主分类号:G01M11/02

本发明提供基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法,将一束准直扩束光束分为两路,并且透射准直光束的指向不变,通过双路旋转式轴向指向可调分光系统,可实现分光光路绕透射光轴夹角锥面旋转,通过

[发明专利] 一种运动目标模拟装置及标定方法 - CN106352898A

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20160829 主分类号:G01C25/00

本发明涉及运动目标模拟装置及标定方法,模拟装置包括自准直仪、旋转臂、用于安装自准直仪和旋转臂的轴系、折转反射镜、驱动机构、绝对式角位置传感器、支撑调节架及多功能计算机,轴系包括固定轴及旋转轴,

[发明专利] 一种光学传递设备仪器常数标定系统及其标定方法 - CN106546413B

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20161019 主分类号:G01M11/02

本发明属于精密光学测试技术领域,涉及一种光学传递设备仪器常数标定系统及其标定方法。该标定系统包括自准直经纬仪、可调基座、基准工装和转向光管;基准工装安装于可调基座上;基准工装的侧面安装有基准棱

[实用新型] 一种自准直经纬仪双照准差标定系统 - CN206113965U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20160914 主分类号:G01C25/00

本实用新型涉及一种自准直经纬仪双照准差标定系统。该系统包括标定工作台、可调支架以及双目标模拟器;待测自准直经纬仪以及可调支架均安装在标定工作台上;双目标模拟器安装在可调支架上并且待测自准直经纬

[发明专利] 一种光谱可调光源及其光谱调节方法 - CN107192667A

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20170428 主分类号:G01N21/01

本发明涉及照明领域,特别涉及一种光谱可调光源及其光谱调节方法。现阶段,人们认知的大多数人造光源输出的光谱信息受限于自身发光物质,只能在满足普朗克公式的前提下,得到一定范围光谱信息可调的光源,无
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合作学者

曹昆   合作次数:54

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赵建科   合作次数:113

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陈永权   合作次数:66

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段亚轩   合作次数:83

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薛勋   合作次数:67

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