朱文煜

朱文煜    

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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[发明专利] 利用近红外光谱测量固体物质成份含量的装置 - CN100414286C

申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 申请年:20030814 主分类号:G01N21/35

本发明涉及用近红外光谱分析技术来获取固体物质(含有机组分)中成份含量的装置。包括光源1、分光系统2、漫散射光收集系统3、样品4、光电传感器5、参考光电传感器6、放大器7、A/D转换器8、分束镜

[发明专利] 一种智能弱视矫正装置 - CN1274288C

申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 申请年:20030927 主分类号:A61F9/00

一种智能弱视矫正装置,属于医疗器械技术领域中涉及的一种弱视治疗矫正仪器。本发明要解决的技术问题是:提供一种智能弱视矫正装置。解决的技术方案是:本发明包括主机和控制系统。主机包括图像屏系统、左、

[实用新型] 利用近红外光谱测量固体物质成分含量的装置 - CN2634470Y

申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 申请年:20030814 主分类号:G01N21/35

本实用新型涉及用近红外光谱分析技术来获取 固体物质(含有机组分)中成分含量的装置。包括光源1、分光 系统2、漫散射光收集系统3、样品4、光电传感器5、参考光 电传感器6、放大器7、A/D转换器

[发明专利] 一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构 - CN101995327B

申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 申请年:20100910 主分类号:G01M11/02

一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构,属于光谱技术领域中涉及的一种凹面光栅衍射效率测试仪。要解决的技术问题是:提供一种凹面光栅衍射效率测试的光路结构。解决技术问题的技术方案是:包括光源外光路、

[发明专利] 一种宽波段大尺寸平面光栅衍射效率测试仪 - CN103245488B

申请人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 申请年:20130402 主分类号:G01M11/02

一种宽波段大尺寸平面光栅衍射效率测试仪,涉及光谱技术领域,解决现有光栅衍射效率测试仪无法实现宽波段范围内衍射效率的测量的问题,包括光源系统、前置单色仪、测量单色仪、探测系统和控制器;第一平面反
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合作学者

齐向东   合作次数:2

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唐玉国   合作次数:2

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张军   合作次数:3

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王晓舒   合作次数:2

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巴音贺希格   合作次数:2

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