李晶

李晶    

中国科学院西安光学精密机械研究所

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[发明专利] 望远系统视放大率测量装置及测量方法 - CN105444998B

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20151215 主分类号:G01M11/02

本发明属于光学检测领域,具体涉及一种望远系统视放大率测量装置及测量方法,该测量装置包括激光平面干涉仪、一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和二号双坐标自准直仪;激光平面干涉仪位于

[发明专利] 基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法 - CN106248351B

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20160824 主分类号:G01M11/02

本发明提供基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法,将一束准直扩束光束分为两路,并且透射准直光束的指向不变,通过双路旋转式轴向指向可调分光系统,可实现分光光路绕透射光轴夹角锥面旋转,通过

[实用新型] 激光远场焦斑高精度动态诊断装置 - CN205719248U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20160411 主分类号:G01J1/42

本实用新型提供了一种的激光远场焦斑高精度动态诊断装置,旨在解决现有技术分辨率低、误差大的弊端。本实用新型包括依次设置在同一光路上的单模光纤激光器、准直镜、可变光阑、分束镜、取样镜、缩束/扩束系

[实用新型] 多维信息一体化获取相机的光谱定标装置 - CN205748638U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20160506 主分类号:G01J3/28

本实用新型涉及一种多维信息一体化获取相机的光谱定标装置,包括多维信息一体化获取相机、光谱分析仪、积分球和定标光源组件。定标光源组件固定安装在积分球的入光口处,多维信息一体化获取相机和光谱分析仪

[发明专利] 一种光谱可调光源及其光谱调节方法 - CN107192667A

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20170428 主分类号:G01N21/01

本发明涉及照明领域,特别涉及一种光谱可调光源及其光谱调节方法。现阶段,人们认知的大多数人造光源输出的光谱信息受限于自身发光物质,只能在满足普朗克公式的前提下,得到一定范围光谱信息可调的光源,无

[实用新型] 一种光谱可调光源 - CN206906226U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20170428 主分类号:G01N21/01

本实用新型涉及照明领域,特别涉及一种光谱可调光源。现阶段,人们认知的大多数人造光源输出的光谱信息受限于自身发光物质,只能在满足普朗克公式的前提下,得到一定范围光谱信息可调的光源,无法实现对光源

[实用新型] 光谱分布与亮度可任意调谐的光源 - CN206904677U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20170612 主分类号:F21S2/00

本实用新型属于光学照明领域,具体涉及一种光谱分布与亮度可任意调谐的光源。该光源包括沿光路方向依次排布的复色线光源、准直镜、调谐系统、匀光系统和监测调控系统;调谐系统包括沿光路方向依次排布的分光

[发明专利] PST测试与极弱目标模拟系统及PST、探测能力的测试方法 - CN108680188A

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20180621 主分类号:G01C25/00

本发明涉及一种PST测试与极弱目标模拟系统及PST、探测能力的测试方法,系统主要包括点源透过率测试系统、极弱目标模拟系统及主控系统;将点源透过率测试与极弱目标模拟两大系统紧密的结合在一起,实现

[实用新型] 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置 - CN208012837U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20180323 主分类号:G01M11/02

本实用新型涉及光学测试技术领域,针对现有均匀光源均匀性测试装置中,面均匀性测试装置有效扫描区域不完整,角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要,提供一种

[实用新型] 一种均匀光源角均匀性测试装置 - CN208270178U

申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所 申请年:20180528 主分类号:G01M11/02

本实用新型属于光学测试领域,涉及一种均匀光源角均匀性测试装置,解决了现有技术存在的一套弧形导轨只能适配一种直径出射面,造成投入过高、资源浪费的问题。本实用新型的技术解决方案是:一种均匀光源角均
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曹昆   合作次数:28

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刘尚阔   合作次数:29

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