专利名称 ---【 干涉成像光谱仪的平场方法 】

基本信息
申请号
CN200710018975.7
申请日
20071030
公开(公告)号
CN101144737B
公开(公告)日
20080319
申请(专利权)人
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址
710119 陕西省西安市高新区新型工业园区信息大道17号
发明人
赵葆常;杨建峰;薛彬;乔卫东;邱跃洪; 专利类型 发明专利
摘要
一种干涉成像光谱仪的平场方法,其将被平场干涉成像光谱仪的光轴对准平场光源的开口中心,通过图像采集卡采集被平场干涉成像光谱仪输出的干涉图像数据,送至计算机进行处理,计算平场校正矩阵,分析平场不确定度,获得平场校正矩阵。本发明解决了技术背景中修正的全面性及效果相对较差的技术问题。本发明主要用于空间调制型干涉成像光谱仪整机的平场,以消除系统误差,可以一次性地修正各种因素造成的像元间响应的不一致性。本发明同样适用于飞机或卫星搭载的干涉成像光谱仪在飞行过程中的利用地面标准辐射场的平场。
主权项
1.一种干涉成像光谱仪的平场方法,该方法包括以下实现步骤:(1.)采集:(1.1)将被平场干涉成像光谱仪(2)的光轴OO′对准平场光源的开口中心,平场光源为均匀、稳定面光源;(1.2)用图像采集卡(3)采集被平场干涉成像光谱仪(2)输出的干涉图像数据,共测量T种状态,在同一种状态下进行K次数据采样;其中,T≥10,K≥25次;(2.)将采集的干涉图像数据送至计算机(4)进行处理,获得平场校正矩阵:(2.1)计算平场校正矩阵:(2.1.1)以CCD矩阵的行方向为空间方向,各行的标号为i=0,±1,±2…±N;以CCD矩阵的列方向为干涉图方向,各列的标号为j=1,2…M,以CCD矩阵的行方向或列方向进行平场修正,得到T种状态、每种状态K次数据采样的原始干涉图数据;(2.1.2)对每种状态的第K次数据采样求算术平均值以去除随机误差引入的不确定因素:其中Ii,j,kt对应为第t状态中第k次采样,i行j列像元的数据;(2.1.3)对具有相同|i|值的CCD像元的t状态中的第K次数据采样的平均值作列算术平均:(2.1.3)对T种状态进行线性拟合,应用最小二乘法求得t组数据的二维平场修正矩阵Ai,j,所求得的二维平场修正矩阵Ai,j满足下列条件:(2.2)分析平场不确定度:(2.2.1)计算T种状态K次采样每个CCD像元与校正值求均方根误差(2.2.2)设光源的不均匀性为δ光源,则评估平场数据离散生的平场不确定度为:

 

IPC信息
IPC主分类号
G01J3/26

 

法律状态信息
法律状态公告日
20080319
法律状态
公开 法律状态信息
CN200710018975 20080319 公开 公开
法律状态公告日
20080514
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
CN200710018975 20080514 实质审查的生效 实质审查的生效
法律状态公告日
20110406
法律状态
授权 法律状态信息
CN200710018975 20110406 授权 授权
法律状态公告日
20151216
法律状态
专利权的终止 法律状态信息
CN200710018975 20151216 专利权的终止 未缴年费专利权终止IPC(主分类):G01J 3/26申请日:20071030授权公告日:20110406终止日期:20141030

 

代理信息
代理机构名称
西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人姓名
徐平


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