专利名称 ---【 使用锥镜实现暗场显微及荧光显微的方法及装置 】

基本信息
申请号
CN200710307275.X
申请日
20071229
公开(公告)号
CN101216601B
公开(公告)日
20080709
申请(专利权)人
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
发明人
雷铭;姚保利; 专利类型 发明专利
摘要
本发明涉及一种使用锥镜实现暗场显微及荧光显微的方法及装置,首先产生一个平行照明光光束或荧光激发光光束;使该平行光束通过锥镜发散形成空心光束;将空心光束依次通过透镜I和透镜II,使透镜II出射光线的发散角大于显微物镜的孔径角;将样品放置在空心光束的中心,用显微物镜观察样品,还可在显微物镜前方设置CCD摄像机。本发明系统透过率高、可以方便地实现明场显微与暗场显微的切换、能同时实现暗场显微和荧光显微功能,解决了现有暗场显微的照明光透过率不高以及现有荧光显微对不同的荧光染料要使用不同滤光片且不能同时具有暗场显微的技术问题。
主权项
一种使用锥镜实现暗场显微及荧光显微的方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:1]产生一平行光束;所述平行光束为白光照明光或荧光激发光;所述荧光激发光光源(4)采用高压汞灯或采用特定波长的激光器;2]该平行光束通过锥镜(8),发散形成空心光束;3]调节空心光束的发散角,使出射光线的发散角大于显微物镜(14)的孔径角;所述调节空心光束的发散角的方法是:将空心光束依次通过透镜I(9)和透镜II(11),使透镜II(11)出射光线的发散角大于显微物镜(14)的孔径角;所述锥镜(8)、透镜I(9)、透镜II(11)之间应满足如下关系:其中:w0‑入射平行光束的半径;γ‑锥镜(8)的底角;n‑锥镜(8)材料的折射率;u1‑入射平行光束通过锥镜(8)后的发散角;u2‑从透镜II(11)出射光线的发散角;f1‑透镜I(9)的焦距;f2‑透镜II(11)的焦距;d1‑锥镜(8)和透镜I(9)之间的距离;d2‑透镜I(9)和透镜II(11)之间的距离;h‑光束入射到透镜I(9)上的半径;4]将样品(13)放置在空心光束的中心,用显微物镜(14)观察样品(13)。re-FSB00000227071000011.tif

 

IPC信息
IPC主分类号
G02B21/10

 

法律状态信息
法律状态公告日
20080709
法律状态
公开 法律状态信息
CN200710307275 20080709 公开 公开
法律状态公告日
20080903
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
CN200710307275 20080903 实质审查的生效 实质审查的生效
法律状态公告日
20101215
法律状态
授权 法律状态信息
CN200710307275 20101215 授权 授权
法律状态公告日
20181207
法律状态
专利申请权、专利权的转移 法律状态信息
CN200710307275 20181207 专利申请权、专利权的转移 专利权的转移IPC(主分类):G02B 21/10登记生效日:20181116变更前 专利权人:中国科学院西安光学精密机械研究所 地址:710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号变更后 专利权人:凌云光技术集团有限责任公

 

代理信息
代理机构名称
西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人姓名
王少文


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