专利名称 ---【 基于分立光强测量器件的线性相位反演波前传感器 】

基本信息
申请号
CN200810112286.7
申请日
20080522
公开(公告)号
CN101285712B
公开(公告)日
20081015
申请(专利权)人
中国科学院光电技术研究所
申请人地址
610209 四川省双流350信箱
发明人
李新阳;李敏;姜文汉; 专利类型 发明专利
摘要
基于分立光强测量器件的线性相位反演波前传感器,衍射成像光学系统固定在轴向平移台上,微透镜阵列固定在垂直升降台上,置于衍射成像光学系统后离焦面上;光学匹配放大系统置于微透镜阵列后离焦面,分立光强测量器件组置于光学匹配放大系统后并分别固定在两轴向平移台上,上述光学装置放置在底座上;平行光源通过衍射成像光学系统得到无像差时的远场光斑图像,再通过微透镜阵列得到分立子光束,再经过光学匹配放大系统耦合到对应的分立光强测量器件组并被其采集数据,再利用A/D卡将相应的数据采集到PC计算机中进行数据处理;本发明波前传感器使用分立光强测量器件进行远场图像数据的采集,具有更高的光强灵敏度,并且这种器件易于获得,适用性广。
主权项
基于分立光强测量器件的线性相位反演波前传感器,包括衍射成像光学系统(1)、微透镜阵列(2)、光学匹配放大系统(3)、分立光强测量器件组(4)、A/D卡(5)、PC计算机(6)、第一轴向平移台(7)、第二轴向平移台(8)、第三轴向平移台(9)、底座(10)和垂直升降台(11);其特征在于:衍射成像光学系统(1)固定在第一轴向平移台(7)上,可进行轴向平移调整;微透镜阵列(2)固定在垂直升降台(11)上,可进行上下平移调整,并置于衍射成像光学系统(1)的后离焦面上;光学匹配放大系统(3)置于微透镜阵列(2)的后离焦面,并固定在第二轴向平移台(8)上,可进行轴向平移调整;分立光强测量器件组(4),置于光学匹配放大系统(3)之后,并固定在第三轴向平移台(9)上,可进行轴向平移调整,将第一轴向平移台(7)、垂直升降台(11)、第二轴向平移台(8)和第三轴向平移台(9)放置在底座(10)上;平行光源出射平行光,通过衍射成像光学系统(1)得到无像差时的远场光斑图像,再通过微透镜阵列(2)得到分立子光束,分立子光束通过光学匹配放大系统(3)耦合到对应的分立光强测量器件组(4),分立光强测量器件组(4)采集到数据,再利用A/D卡(5)将相应的数据采集到PC计算机(6)中进行数据处理;微透镜阵列(2)的孔径和总入射光束口径相匹配,使光束发散开。

 

IPC信息
IPC主分类号
G01J9/00

 

法律状态信息
法律状态公告日
20090304
法律状态
授权 法律状态信息
CN200810112286 20090304 实质审查的生效 实质审查的生效
法律状态公告日
20081015
法律状态
专利权的终止 法律状态信息
CN200810112286 20120104 授权 授权
法律状态公告日
20120104
法律状态
公开 法律状态信息
CN200810112286 20081015 公开 公开
法律状态公告日
20160706
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
CN200810112286 20160706 专利权的终止 未缴年费专利权终止IPC(主分类):G01J 9/00申请日:20080522授权公告日:20120104终止日期:20150522

 

代理信息
代理机构名称
北京科迪生专利代理有限责任公司 11251
代理人姓名
贾玉忠;卢纪

 

被引专利信息
引用阶段 被引时间 专利号 申请人 公开时间

 

被引非专利信息
引用阶段 被引时间 被引文档类型 被引文档信息


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