专利名称 ---【 一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计 】

基本信息
申请号
CN201711281785.4
申请日
2017.12.07
公开(公告)号
CN107830928A
公开(公告)日
2018.03.23
申请(专利权)人
中国科学院合肥物质科学研究院
申请人地址
230031 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
发明人
徐青山;杨东;李建玉;徐文清;詹杰;魏合理; 专利类型 发明专利
摘要
本发明公开了一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计,上位工控机下发测量命令,在确定初始位置后,启动视日轨迹跟踪命令,程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数,发送给下位机嵌入式控制系统,下位机嵌入式控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后,太阳的影像出现在CCD探测器视场内,启动CCD图像精跟踪,太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处,对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机,上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳。本发明采用了图像跟踪技术替代了四象限跟踪,实现全天候下的跟踪,实现大视场的跟踪。
主权项
一种用于卷云光学特性测量的太阳光度计,其特征在于:包括有探测头、CCD探测器、上位工控机、下位机嵌入式控制系统、电机驱动系统和信号处理系统,所述的探测头包括有平行安装的跟踪成像光学系统和光学探测系统,上位工控机下发测量命令,在确定初始位置后,启动视日轨迹跟踪命令,程序计算出转到太阳方位需要的水平俯仰电机步数,发送给下位机嵌入式控制系统,下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统实现水平、俯仰电机转动使探测头到当前太阳的方位后,太阳的影像出现在CCD探测器视场内,启动CCD图像精跟踪,太阳光经所述跟踪成像光学系统后照射在CCD探测器的靶面中心处,对视场内的太阳影像进行采集与存储并发送给上位工控机,上位工控机程序对采集到的图像进行分析是否跟准了太阳,计算太阳光斑中心坐标与CCD探测器视场中心坐标进行比较,控制电机驱动系统调节跟踪成像光学系统逐渐靠近太阳,直到在跟踪误差允许的像数范围内,在判断跟准后,上位工控机下发测量命令,测量时下位机嵌入式控制系统控制电机驱动系统转动光学探测系统进行测量,太阳光信号通过光学探测系统后转化为电压信号,通过信号处理系统处理后将测量数据上传给上位工控机并保存,实现在较短时间内测量并实时跟踪。

 

IPC信息
IPC主分类号
G01J1/42(2006.01)I
IPC分类号
G01J1/42(2006.01)I;G01N21/53(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I;G05D3/12(2006.01)I

 

法律状态信息
法律状态公告日
2019.10.01
法律状态
授权 法律状态信息
授权
法律状态公告日
2018.04.17
法律状态
实质审查的生效 法律状态信息
实质审查的生效IPC(主分类):G01J 1/42
法律状态公告日
2018.03.23
法律状态
公开 法律状态信息
公开

 

代理信息
代理机构名称
安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112
代理人姓名
余成俊

 

被引专利信息
引用阶段 被引时间 专利号 申请人 公开时间

 

被引非专利信息
引用阶段 被引时间 被引文档类型 被引文档信息
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