专利名称 ---【 一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置 】

基本信息
申请号
CN201720230359.7
申请日
20170310
公开(公告)号
CN206905904U
公开(公告)日
20180119
申请(专利权)人
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址
710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
发明人
魏儒义;张智南;王飞橙;于建冬;于涛;高晓惠; 专利类型 实用新型
摘要
本实用新型提出一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置,该装置包括依次设置的共光路干涉分光光路、色散分光光路以及光电探测器;所述共光路干涉分光光路采用非对称结构的共光路Sagnac干涉仪,使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合,而是在空间上平行分离;在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构,使得两路一级光束最终产生光程差,以干涉光束出射;其中一路干涉光束经会聚后到狭缝上,该狭缝成为色散分光光路的入射像面位置;另一路干涉光束即所述最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束也经会聚后进入色散分光光路。
主权项
一种高通量高稳定相干色散光谱成像装置,其特征在于:包括依次设置的共光路干涉分光光路、色散分光光路以及光电探测器;所述共光路干涉分光光路采用非对称结构的共光路Sagnac干涉仪,即共光路Sagnac干涉仪中的反射面的空间位置设置使得最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束不再与入射光束重合,而是在空间上平行分离;记分束面首次分光得到一级光束,二次分光得到二级光束;则在二次分光前的光路上对应于空间上平行分离的光束还设置有光程调节结构,使得两路一级光束最终产生光程差,以干涉光束出射;其中一路干涉光束经会聚后到狭缝上,该狭缝成为色散分光光路的入射像面位置;另一路干涉光束即所述最终经共光路Sagnac干涉仪中分束面返回的光束也经会聚后进入色散分光光路。

 

IPC信息
IPC主分类号
G01J3/45

 

法律状态信息
法律状态公告日
20180119
法律状态
授权 法律状态信息
CN201720230359 20180119 授权 授权
法律状态公告日
20190122
法律状态
避免重复授权放弃专利权 法律状态信息
CN201720230359 20190122 避免重复授权放弃专利权 避免重复授予专利权IPC(主分类):G01J 3/45授权公告日:20180119放弃生效日:20190122

 

代理信息
代理机构名称
西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人姓名
胡乐


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