| 申请年 | 2011（5） 2010（4） |
| 授权状态 | 授权（9） |
| 授权年 | 2013（3） 2012（3） 2011（3） |
| 最终法律状态 |
专利申请权、专利权的转移（9）
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| 公开年 |
2011（9）
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| 专利类型 | 发明专利（9） |
| 申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所（9）
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| 排序 | 申请日升序 申请日降序 公开日升序 公开日降序 被引非专利数 被引专利数 被引总数 |
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[发明专利] 提高光束偏振度测量精度的方法 - CN101949734A
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2010 主分类号:G01J4/00
被引非专利数:0 被引专利数:13 被引总数:13
一种提高光束偏振度测量精度的方法，使用的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，待测光束平行于系统光轴入射至所述的相位延迟器... -
[发明专利] 偏振检测装置中器件误差的测量方法 - CN101936774B
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2010 主分类号:G01J4/04
被引非专利数:0 被引专利数:0 被引总数:0
一种偏振检测装置中器件误差的测量方法，所述的偏振检测装置包括沿装置系统光轴依次设置的相位延迟器件、检偏器和光电探测器，该光电探测器的输出接信号处理系统，其特点在于，斯托克斯参数已知的线偏振光入... -
[发明专利] 抑制大尺寸片状激光钕玻璃放大自发辐射的方法 - CN101976796B
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2010 主分类号:H01S3/08
被引非专利数:0 被引专利数:2 被引总数:2
一种抑制大尺寸片状激光钕玻璃放大自发辐射的方法，包括(一)选取与所述的片状激光钕玻璃相匹配的吸收玻璃和有机粘接剂；(二)所述的片状激光钕玻璃和吸收玻璃板条的加工和粘贴，(三)片状激光钕玻璃的通... -
[发明专利] 用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法 - CN102168944B
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2010 主分类号:G01B9/02
被引非专利数:0 被引专利数:0 被引总数:0
一种用于绝对距离测量的双频激光干涉仪及其测量方法，该双频激光干涉仪的结构包括光源、光纤耦合器、隔离器、准直器、光电探测器、压电陶瓷、数据采集卡和计算机。所述的光源是两个波长不相等的半导体激光器... -
[发明专利] 八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法 - CN102175430A
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2011 主分类号:G01M11/02
被引非专利数:0 被引专利数:19 被引总数:19
一种八分之一波片相位延迟量和快轴方位角的测量装置和方法，该装置由准直光源、圆起偏器、衍射光栅、聚焦透镜、衰减器、检偏器阵列、光电探测器阵列和信号处理系统组成，本发明能实时地测量八分之一波片的相... -
[发明专利] 用于光刻照明的多分区光学位相板的设计方法 - CN102109676B
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2011 主分类号:G02B27/00
被引非专利数:0 被引专利数:0 被引总数:0
一种用于光刻照明的多分区光学位相板的设计方法，其特点在于该方法包括下列步骤：①计算位相单元的尺寸l；②光学位相板分区大小d的选取；③入射光束和确定所需光束的光强分布并进行矩阵化处理；④对位相板... -
[发明专利] GaInN白光LED用复合结构荧光陶瓷及其制备方法 - CN102249660B
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2011 主分类号:C09K11/77
被引非专利数:0 被引专利数:0 被引总数:0
一种用于GaInN白光LED的复合结构荧光陶瓷及其制备方法，该复合结构荧光陶瓷由上层透明陶瓷和下层透明陶瓷通过侧面粘合构成：上层透明陶瓷的化学组成为(CexY1-x)3Al5O12，其中x的取... -
[发明专利] 光纤包层光滤除器及其制造方法 - CN102255227A
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2011 主分类号:H01S3/067
被引非专利数:0 被引专利数:34 被引总数:34
一种光纤包层光滤除器及其制造方法，该光纤包层光滤除器的结构是将单包层光纤的一段涂覆层或双包层光纤的一段涂覆层及外包层去掉，使用切割刀或者化学药剂将裸露出来的包层或内包层表面粗糙化，破坏泵浦光和... -
[发明专利] 光束整形元件光学性能的检测装置和检测方法 - CN102243137B
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所 申请年:2011 主分类号:G01M11/02
被引非专利数:0 被引专利数:0 被引总数:0
一种用于紫外光刻机的光束整形元件的光学性能的检测装置和检测方法，装置的构成包括可见激光器，在该可见激光器输出激光的方向同光轴地依次设有扩束镜组、分束镜、第一远场成像透镜、可调光阑或CCD图像传...
